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產(chǎn)品分類

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類型分類:
科普知識(shí)
數(shù)據(jù)分類:
工控機(jī)

ATOM嵌入式超低功耗無(wú)風(fēng)扇全密封工控機(jī)——WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)高溫測(cè)試報(bào)告

發(fā)布日期:2022-10-09 點(diǎn)擊率:101

下面為測(cè)試我們WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在高溫環(huán)境下的運(yùn)行情況,我們對(duì)WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)分別進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室測(cè)試、常溫測(cè)試、模擬實(shí)驗(yàn)室高溫環(huán)境測(cè)試。

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實(shí)驗(yàn)室溫度測(cè)試

WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)實(shí)驗(yàn)室溫度測(cè)試,是在實(shí)驗(yàn)室內(nèi),對(duì)WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)進(jìn)行環(huán)境溫度50℃的高溫測(cè)試,目的是測(cè)試WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在不同的擺放方式下,WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)上CPU面、硬盤(pán)面、WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)硬盤(pán)芯片溫度、CPU二極管溫度、CPU芯片溫度,以及WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在環(huán)境溫度50℃下是否能正常工運(yùn)行。

實(shí)驗(yàn)室測(cè)試環(huán)境:把WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)放于全密封的測(cè)試設(shè)備內(nèi),測(cè)試設(shè)備內(nèi)的環(huán)境溫度到達(dá)50℃ 。

實(shí)驗(yàn)室測(cè)試目的:測(cè)試WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)能否在全密封、環(huán)境溫度50℃的環(huán)境下正常運(yùn)行。

實(shí)驗(yàn)室溫度測(cè)試記錄表

實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果:WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)可以在全密封、環(huán)境溫度50℃下的環(huán)境內(nèi),正常運(yùn)行。WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)通過(guò)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試

 

實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)論:

WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)能在實(shí)驗(yàn)室50℃環(huán)境溫度下,正常運(yùn)行

經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)室的溫度測(cè)試,WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在環(huán)境溫度50℃下,無(wú)論WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在臥放、豎放的擺放方式中,測(cè)得的硬盤(pán)芯片溫度、CPU二極管溫度、CPU芯片溫度均在極限溫度以下,CPU正常工作,WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)保持正常運(yùn)行。

 

常溫環(huán)境溫度測(cè)試

我們對(duì)WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)進(jìn)行常溫環(huán)境溫度測(cè)試,目的是檢測(cè)WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在常溫環(huán)境下的運(yùn)行情況。

常溫環(huán)境下測(cè)試

常溫環(huán)境下測(cè)試是指在正常溫度下(即測(cè)試環(huán)境溫度在30℃附近),把WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)放在室內(nèi),于120小時(shí)連續(xù)不間斷測(cè)試后,對(duì)WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)的運(yùn)行情況進(jìn)行測(cè)試,記錄WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)的運(yùn)行情況。

常溫測(cè)試環(huán)境:把WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)放置于環(huán)境溫度在30℃附近的辦公房間內(nèi)運(yùn)行。

常溫測(cè)試目的:測(cè)試WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在常溫環(huán)境下,CPU占用率100%的運(yùn)行情況和WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)機(jī)箱面的溫度變化情況。

溫度測(cè)試軟件:Passmark Burnintest Pro v4.0.1032

測(cè)試記錄數(shù)據(jù)表:

常溫測(cè)試 1.1 :WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)的擺放方式為機(jī)箱臥放,CPU面向上,120小時(shí)后測(cè)

常溫測(cè)試結(jié)果:WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在CPU占用率100%,環(huán)境溫度30℃左右的常溫下,運(yùn)行正常。室內(nèi)環(huán)境溫度與WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)機(jī)箱表面溫度的溫度差在13--18℃。

常溫測(cè)試結(jié)論

WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在常溫環(huán)境下,正常運(yùn)行

從測(cè)試情況表明,在常溫下,CPU占用率100%的WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)在臥放、豎放等不同的擺放方式下,室內(nèi)環(huán)境溫度與WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)機(jī)箱表面溫度相差13--18℃,溫度在正常范圍之內(nèi)。溫度測(cè)試軟件測(cè)得WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)硬盤(pán)芯片溫度在48℃--49℃之間,CPU二極管溫度在91℃附近,CPU芯片溫度在76℃--78℃之間,溫度均在硬盤(pán)、二極管、CPU的極限溫度以內(nèi),WITEHC-I-F8000-2(優(yōu)BOX)工作情況正常。

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